新颖综合可测试性设计优化算法

作     者：胡政 温熙森 刘冠军 

作者机构：国防科技大学 

出 版 物：《电子测量技术》 (Electronic Measurement Technology)

年 卷 期：2000年第23卷第3期

页      码：7-9页

摘      要：可测试性设计是提高产品质量、可靠性、维修性的重要手段。文中对混合技术电路板的可测试性设计问题进行了深入的研究,应用图论模型对综合应用多种可测试性机制进行优化设计的问题进行描述,并应用“贪婪”算法策略构造了一种可行的求解算法,并用实例对算法进行了验证。

主 题 词：可测试性设计 边界扫描 混合技术 电路板 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-7300.2000.03.003

馆 藏 号：203617409...