反熔丝和Flash FPGA对造成器件功能故障具有免疫能力

作     者：KenO’Neill 

作者机构：Actel公司 

出 版 物：《电子与电脑》 (Compotech)

年 卷 期：2005年第5卷第11期

页      码：27-29页

摘      要：在设计高可靠性系统时,无论是陆地、航空或太空应用,设计人员都必须非常小心地选择器件技术.如果选择不当会导致FlT(Failures In Time)大幅度提高,即使基站应用也不例外.

主 题 词：器件技术 Flash 免疫能力 FPGA 反熔丝 故障 高可靠性系统 设计人员 大幅度 

学科分类：1305[艺术学-设计学类] 13[艺术学] 08[工学] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号：203617412...