一种有效的电路容错结构及其成品率分析

作     者：赵天绪 郝跃 朱建纲 ZHAO Tian-xu;HAO Yue;ZHU Jian-gang

作者机构：西安电子科技大学微电子研究所西安710071 

基　　金：国防科技预研基金资助课题 863高科技资助课题 

出 版 物：《电子学报》 (Acta Electronica Sinica)

年 卷 期：2000年第28卷第2期

页      码：79-82页

摘      要：本文提出了一种有效的电路容错结构 ,给出了一种重组算法 .按照这种重组算法 ,对该结构的成品率进行了分析 ,并给出了其成品率的表达式 .最后 ,通过电路设计和分析说明了该容错结构的有效性 .

主 题 词：电路容错结构 重组算法 成品率分析 VLSI WSI 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:0372-2112.2000.02.024

馆 藏 号：203617431...