用光学信息理论分析微弯光纤传感器的性能

作     者：何珺 赵桂燕 徐宏杰 HE Jun;ZHA Gui-yan;XU Hong-jie

作者机构：北京师范大学信息科学与技术学院电子系北京100875 中国铁通集团有限公司网络运行部数据网管维护中心北京100038 北京航空航天大学光电技术研究所北京100083 

出 版 物：《光学技术》 (Optical Technique)

年 卷 期：2006年第32卷第Z1期

页      码：283-285页

摘      要：通过把光学信息理论应用于微弯光纤传感器,用信息量评估测量性能,提出了一种优化系统性能和参数设计的光学信息理论。通过理论推导、直观评价和实验设计,证明了这一思想的正确性和可行性。

主 题 词：光学信息理论 信息量 微弯光纤传感器 优化设计 

学科分类：08[工学] 0803[工学-仪器类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1002-1582.2006.z1.112

馆 藏 号：203617689...