一种高性能采样／保持电路的设计

作     者：潘星 王永禄 裴金亮 PAN Xing;WANG Yonglu;PEI Jinliang

作者机构：重庆邮电大学重庆400065 模拟集成电路国家级重点实验室 

出 版 物：《微电子学》 (Microelectronics)

年 卷 期：2008年第38卷第3期

页      码：442-444,448页

摘      要：设计了一种基于标准0.35μm CMOS工艺的高性能采样/保持电路。预充电技术和输出电容耦合技术的运用,降低了电路对运算放大器的要求,同时实现了低功耗。在Cadence Spec-tre环境下进行仿真,当输入信号为48.4375MHz、2Vpp的正弦波,采样速率为100MSPS时,该采样/保持电路的SFDR达72.3dB,THD为-65.2dB,分辨率为11位;在3.3V电源电压下,电路的功耗为27mW。

主 题 词：采样/保持电路 预充电 输出电容耦合 CMOS 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203618449...