高Q腔法测试透波材料毫米波复介电常数

作     者：吴超 李恩 郭高凤 何凤梅 Wu Chao;Li En;Guo Gaofeng;He Fengmei

作者机构：电子科技大学成都610054 航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术国防科技重点实验室北京100076 

出 版 物：《宇航材料工艺》 (Aerospace Materials & Technology)

年 卷 期：2009年第39卷第1期

页      码：82-84页

摘      要：介绍了透波材料毫米波复介电常数自动测试方法,采用高Q腔一腔多模扫频(18～40GHz)方法测试了微波低损耗圆盘状介质材料,谐振腔工作在TE10p模式,电场的极化方向平行于样品表面。为适应毫米波段材料测试的要求,在设计测试用宽频高Q值谐振腔时,改变以往工作中腔壁开槽位置以抑制TM1mn简并模,对测试用谐振腔的设计大大减小了测试误差。用此系统对几种低损耗材料进行测量,结果证明谐振腔有效抑制了干扰模式,减小了测试误差。对测试结果进行了误差分析,系统的最可几测试误差为:|Δεr/εr|=2%;|Δtanδ|=10%tanδ+5×10-5。

主 题 词：圆柱谐振腔 复介电常数 微波测试 

学科分类：080802[080802] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1007-2330.2009.01.023

馆 藏 号：203619567...