高速并行总线信号完整性测试技术

作     者：张楷 

作者机构：泰克科技(中国)有限公司 

出 版 物：《中国集成电路》 (China lntegrated Circuit)

年 卷 期：2007年第16卷第1期

页      码：57-60页

摘      要：随着信号速度的显著提高,信号完整性问题已经成为高速数字设计中的关键。本文介绍了一种新的信号完整性分析技术,通过集成逻辑分析仪和数字存储示波器,将物理层模拟信号、数据层数字信号时间相关的联合观测,自动测试多达408个并行总线眼图,有效定位和分析高速总线中出现的故障问题,排除由于信号完整性问题导致的数字系统错误。最后结合处理器和高速总线,给出了高速信号完整性分析实例。

主 题 词：信号完整性 信号反射 串扰效应 逻辑分析仪 iLink工具包 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1681-5289.2007.01.015

馆 藏 号：203624656...