VXI数模混合集成电路测试系统

作     者：北京自动测试技术研究所 

作者机构：北京自动测试技术研究所 

出 版 物：《中国集成电路》 (China lntegrated Circuit)

年 卷 期：2007年第16卷第7期

页      码：48-49页

摘      要：1、简介 《VXI数模混合集成电路测试系统》的开发，对于集成电路设计验证、集成电路测试都有着极其重要的意义。VXI总线测试系统由于其开放性、可扩展性及模块化结构使其应用广泛。该项目带动了国内集成电路测试仪器的产业化。通过该测试系统的开发、生产，必将满足大部分国内集成电路测试需求，替代国外同类测试系统，可节省大量外汇资源，在中高速测试系统中引入竞争，迫使国外中高档测试系统降价，将产生良、好的社会效益和经济效益。有利地促进我国集成电路产业的发展。

主 题 词：集成电路测试系统 VXI总线测试系统 数模混合 集成电路产业 模块化结构 设计验证 可扩展性 测试仪器 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1681-5289.2007.07.017

馆 藏 号：203624791...