基于测试覆盖的嵌入式软件可靠性评估

作     者：袁春如 廖泰安 贺红卫 YUAN Chun-ru;LIAO Tai-an;HE Hong-wei

作者机构：中国航天科工集团第二研究院706所北京100854 中国航天科工集团第二研究院北京100854 

出 版 物：《计算机工程与设计》 (Computer Engineering and Design)

年 卷 期：2009年第30卷第9期

页      码：2198-2200页

摘      要：为了提高软件可靠性的评估和预测精度,提出了一个基于测试覆盖的非齐次泊松过程类软件可靠性增长模型,通过将测试覆盖率信息考虑到软件可靠性模型中去,使模型能够更准确地描述软件的测试过程,并能避免由于测试的不充分性而导致的可靠性评估偏离软件的真实情况。提出了结合变点思想的基于测试覆盖的软件可靠性评估方法,该方法解决了工程实践中经常出现的测试过程中剖面发生变化而导致失效数据不服从同一分布的实际问题。最后,通过实例分析,验证了该方法的准确性和有效性。

主 题 词：软件可靠性 嵌入式软件 非齐次泊松过程 测试覆盖 变点 软件可靠性增长模型 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.16208/j.issn1000-7024.2009.09.026

馆 藏 号：203625531...