RFID测试暗室的设计

作     者：杨文麟 

作者机构：南京洛普股份有限公司微波暗室事业部江苏南京210061 

出 版 物：《电子质量》 (Electronics Quality)

年 卷 期：2011年第9期

页      码：79-80页

摘      要：该文主要介绍了RFID的测试程序,包括此项技术的常用设备及暗室的设计,主要是用于910MHz的UHF波段。

主 题 词：吸波材料 RFID 测试标准 暗室设计 

学科分类：1305[艺术学-设计学类] 13[艺术学] 081104[081104] 08[工学] 0804[工学-材料学] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-0107.2011.09.041

馆 藏 号：203626469...