基于边界扫描技术的SOC数字电路可测性设计

作     者：周银 刘荣昌 陈圣俭 王蒙蒙 ZHOU Yin;LIU Rongchang;CHEN Shengjian;WANG Mengmeng

作者机构：装甲兵工程学院控制工程系北京100072 中国北方车辆研究所北京100072 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60871029) 

出 版 物：《微电子学》 (Microelectronics)

年 卷 期：2011年第41卷第5期

页      码：705-708页

摘      要：随着SOC系统的快速发展,如何对其进行有效的测试与诊断是当前研究的热点问题。从SOC数字电路可测试性设计的角度出发,基于边界扫描技术,设计了具有边界扫描结构的IP核,并对相应的测试方法进行了研究。通过仿真及时序分析,验证了该设计方法的可行性,为SOC系统的测试提供了新的思路。

主 题 词：SOC 数字电路 IP核 边界扫描 可测性设计 IEEE1149.1 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号：203626507...