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安捷伦推出用于测试40/100G技术的完全集成的光调制分析仪

安捷伦推出用于测试40/100G技术的完全集成的光调制分析仪

出 版 物:《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期:2012年第20卷第3期

页      码:I0002-I0002页

摘      要:本刊讯:2012年3月7日,安捷伦科技公司(NYSE:A)日前宣布推出业界首款便携式、完全集成的光调制分析仪,并配有大尺寸显示屏。紧凑的设计和适中的价格使最新的Agilent N4392A光调制分析仪更适合所有工程师使用,以便在40/100G相干发射机和接收机开发和制造过程中对复杂的调制光信号进行分析。

主 题 词:安捷伦科技公司 光调制 分析仪 全集成 技术 测试 制造过程 便携式 

学科分类:08[工学] 0803[工学-仪器类] 

馆 藏 号:203626842...

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