基于倾斜场镜的C-T成像光谱仪优化设计

作     者：郝爱花 胡炳樑 李立波 李芸 HAO Ai-hua;HU Bing-liang;LI Li-bo;LI Yun

作者机构：西安邮电大学电子工程学院西安710121 中科院西安光学精密机械研究所光谱成像技术实验室西安710119 

基　　金：国家自然科学基金(No.11327303)资助~~ 

出 版 物：《光子学报》 (Acta Photonica Sinica)

年 卷 期：2016年第45卷第4期

页      码：145-149页

摘      要：残留谱线弯曲限制了切尔尼-特纳平面光栅光谱仪在成像光谱仪中的应用.本文不同于传统的基于棱镜的光栅谱线弯曲补偿方法,提出了基于倾斜场镜的补偿方法,即在校正场曲的同时对入射到场镜不同区域,不同波长的狭缝像分别进行谱线弯曲校正,且没有改变系统的其它光学特性.对狭缝大小为7.8mm×0.016mm、光谱范围0.31-0.5μm、光谱分辨率0.4nm、物方焦距70mm、1∶1放大倍率的切尔尼-特纳成像光谱仪进行了优化设计,结果全谱段、全视场MTF〉0.8,点列图RMS半径小于9μm,相对谱线弯曲小于0.2%,满足设计要求.实际设计表明该方法对于可选用光学玻璃有限,且能量较弱的紫外光学系统是一种可选的优化设计方法.

主 题 词：光学设计 光栅光谱仪 场镜 谱线弯曲 切尔尼-特纳 紫外 石英 

学科分类：070207[070207] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-仪器类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3788/gzxb20164504.0412002

馆 藏 号：203628685...