基于受限随机矢量生成的功能验证

作     者：孟维佳 杨军 MENG Wei-jia;YANG Jun

作者机构：东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心南京210096 

出 版 物：《电子器件》 (Chinese Journal of Electron Devices)

年 卷 期：2005年第28卷第1期

页      码：200-203页

摘      要：在SOC设计中,传统功能验证方法面临诸多挑战,主要体现在:①复杂验证场景难以构建。②边缘情况难以覆盖。基于受限随机矢量生成的功能验证方法在满足约束条件的前提下,随机产生验证矢量,有效解决了传统验证方法面临的挑战。本文以一款SOC的存储子系统控制模块为例,研究了在 Specman验证平台上,使用 E语言构建验证环境的基于受限随机矢量生成的功能验证在 SOC设计中的应用。验证结果表明,复杂验证场景和边缘情况的覆盖率均达到100%。经过多目标圆片(MPW)流片试验和测试,采用该方法验证的模块达到设计要求。

主 题 词：受限随机矢量 功能验证 specman 

学科分类：080903[080903] 0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1005-9490.2005.01.051

馆 藏 号：203632842...