单片机和CPLD在PTCR测试系统中的应用

作     者：黎步银 王小军 时锋 郝永德 

作者机构：华中科技大学电子科学与技术系湖北武汉430074 

出 版 物：《仪表技术与传感器》 (Instrument Technique and Sensor)

年 卷 期：2004年第3期

页      码：27-28,30页

摘      要：针对PTCR热敏电阻生产中耐电压、耐电流特性测试的需要,研制了一种使用单片机和CPLD(ComplexPro grammableLogicDevice复杂可编程逻辑器件)来控制PTCR测试的模块。采用AT89C51单片机、CPLD、RS232通讯接口,很好地实现了在PTCR测试中选择各种测试模式和实时设置、修改各种参数,并且可以通过RS232接口与计算机通信,组成功能更强大的分级控制系统。这使得对PTCR的测试更方便、更稳定、更高效。着重介绍了模块的设计思想、实现的功能、硬件电路的设计、软件的设计。模块的控制核心为单片机,尤其控制和协调其他各部分工作,使用C51语言编程。CPLD的编程使用的是AHDL语言,使用MAX+PLUSⅡ编译。对其他领域的顺序控制也有较大的参考价值。

主 题 词：PTCR 热敏电阻 测试系统 单片机 CPLD 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-1841.2004.03.012

馆 藏 号：203634964...