测试系统的热分析与设计

作     者：傅龙珠 

作者机构：中国电子科技集团公司第十四研究所江苏南京210013 

出 版 物：《电子机械工程》 (Electro-Mechanical Engineering)

年 卷 期：2004年第20卷第5期

页      码：8-10页

摘      要：军用电子测试仪器的性能指标将直接影响军用装备的性能。研究表明,电子设备和电子器件失效率70%以上是由热引起的,因此热设计技术就成为提高电子设备可靠性的关键技术。文章在分析了测试系统的热特性的基础上,具体阐述了测试系统热设计中的设计思想、步骤及一些具体散热结构。

主 题 词：测试系统 热设计 发热密度 风冷 

学科分类：08[工学] 080502[080502] 0805[工学-能源动力学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1008-5300.2004.05.003

馆 藏 号：203639256...