吉时利集成最新C—V模块及软件，4200-SCS系统实现更快速、简单和经济的C—V／I—V／脉冲测试

作者机构：吉时利公司 

出 版 物：《国外电子测量技术》 (Foreign Electronic Measurement Technology)

年 卷 期：2007年第26卷第11期

页      码：24-24页

摘      要：吉时利仪器公司宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能——4200-CU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法（fF）和纳法（nF）级电容。在4200-CVU的创新设计中采用当前最先进的高性能电路，有8项专利正在申请中。

主 题 词：吉时利仪器公司 测量模块 SCS系统 脉冲测试 4200-SCS 半导体特性分析系统 软件 集成 

学科分类：08[工学] 0803[工学-仪器类] 

馆 藏 号：203640339...