磁光盘原始误码特性的测试

作     者：吴裕斌 曹丹华 阮玉 

作者机构：华中理工大学光电子工程系430074 

基　　金：国家"八五"军事电子预研重点项目!7B.2.2.2 

出 版 物：《华中理工大学学报》 (Journal of Huazhong University of Science and Technology)

年 卷 期：1998年第26卷第1期

页      码：58-59页

摘      要：介绍了测试磁光盘原始误码特性的基本原理，提出了特征误码脉冲宽度硬件判读和误码个数硬件统计方法，具体阐述了测试模块的设计思想．研制的测试模块兼有测试盘片漏码和突发码的功能，并可实现阈值电平、填充信号频率等参数的自动调节．

主 题 词：磁光存储 误码率 测试 磁光盘 

学科分类：08[工学] 0803[工学-仪器类] 

核心收录：

D　O　I：10.13245/j.hust.1998.01.019

馆 藏 号：203640936...