基于丢失手缺陷的IC互连线失效评估新模型

作     者：赵天绪 段旭朝 姜晓鸿 

作者机构：宝鸡文理学院数学系陕西宝鸡721007 宝鸡文理学院物理系陕西宝鸡721007 西安电子科技大学应用数学系陕西西安710071 

出 版 物：《宝鸡文理学院学报（自然科学版）》 (Journal of Baoji University of Arts and Sciences(Natural Science Edition))

年 卷 期：2002年第22卷第1期

页      码：33-35,62页

摘      要：在分析现有的集成路互连线失效评估模型的基础上 ,提出了一种考虑丢失物缺陷影响的IC互连接线电迁移损失新模型 .在 IC电路设计中 ,这种新模型可用于估计与丢失物缺陷及其它因素有关的

主 题 词：丢失物缺陷 电迁移 失效评估模型 集成电路 互连线 IC 失效机理 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1007-1261.2002.01.004

馆 藏 号：203647956...