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光学系统像差与光场干涉对激光参量测量精度的影响

光学系统像差与光场干涉对激光参量测量精度的影响

作     者:高雪松 高春清 于竞 李家泽 魏光辉 Gao Xuesong;Gao Chunqing;Yu Jing;Li Jiaze;Wei Guanghui

作者机构:北京理工大学光电工程系北京100081 

出 版 物:《光学学报》 (Acta Optica Sinica)

年 卷 期:2006年第26卷第6期

页      码:841-844页

摘      要:研究了采用面阵CCD探测器测量光束参量的技术问题,研制了一套高精度激光参量测量系统,对其光学系统像差与光场干涉原因进行了理论分析,实验测量了连续抽运1064nm固体模式发生器产生的基模厄米高斯光束,分析对比了其输出光束带有干涉条纹时对测量精度的影响,对光学系统的设计提出了具体技术要求,为同类装置的研制提供了参考依据。

主 题 词:光束参量 光学系统像差 光场干涉 模式发生器 M^2因子 面阵CCD 

学科分类:0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0805[工学-能源动力学] 0702[理学-物理学类] 080102[080102] 0801[工学-力学类] 

核心收录:

D O I:10.3321/j.issn:0253-2239.2006.06.009

馆 藏 号:203648535...

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