SoC总线串扰的精简MT测试集

作     者：张颖 李华伟 李晓维 胡瑜 Zhang Ying;Li Huawei;Li Xiaowei;Hu Yu

作者机构：中国科学院计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院计算技术研究所北京100190 中国科学院研究生院北京100049 

基　　金：国家自然科学基金(60606008 60633060 60776031) 国家"九七三"重点基础研究发展计划项目(2005CB321605) 国家"八六三"高技术研究发展计划(2007AA01Z476) 

出 版 物：《计算机辅助设计与图形学学报》 (Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics)

年 卷 期：2009年第21卷第4期

页      码：474-480页

摘      要：多跳变(MT)故障模型是一种有效的总线串扰故障模型,可以测试由电容和电感导致的串扰故障,但是MT的原始测试集存在严重的向量冗余.通过分析MT原始测试集向量冗余的3类情况,利用欧拉回路对测试向量进行组合优化,得到MT精简测试集,同时不损失MT故障覆盖率;还设计了MT故障模型的软件自测试程序来实施MT精简测试集,用于实速在线检测串扰故障,而不需要使用高速测试仪.实验结果表明,采用MT精简测试集可以有效地减少总线串扰测试的时间和向量存储开销.

主 题 词：多跳变故障模型 向量冗余 欧拉回路 软件自测试 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

馆 藏 号：203648929...