老化试验条件下的IGBT失效机理分析

作     者：赖伟 陈民铀 冉立 王学梅 徐盛友 LAI Wei;CHEN Minyou;RAN Li;WANG Xuemei;XU shengyou

作者机构：输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室(重庆大学)重庆市沙坪坝区400044 华南理工大学电力学院广东省广州市510640 

基　　金：国家自然科学基金项目(51477019) 中央高校基本科研业务费专项资金资助(CDJZR12150074) 国家重点基础研究发展计划项目(973项目)(2012CB25200)~~ 

出 版 物：《中国电机工程学报》 (Proceedings of the CSEE)

年 卷 期：2015年第35卷第20期

页      码：5293-5300页

摘      要：IGBT模块失效机理是变流器可靠性状态监测的基础,通过分析模块老化失效机理,得到饱和压降Uce补偿模型和结温Tj计算模型,建立IGBT模块功率循环实验平台,验证模块失效的物理过程和机理,得到IGBT模块在老化过程中电气和热参数的变化趋势,并建立热阻的退化模型,分析不同工作条件下对模块老化的影响。试验结果表明,模块在交变温度下焊接层失效是模块的主要失效方式,失效过程中其特征参数热阻满足参数退化模型,结温差越大模块越容易发生失效。通过IGBT模块的老化实验分析器件的老化机理,为变流器的状态监测和运行可靠性评估奠定一定基础,也为功率器件的可靠性设计提供决策支持。

主 题 词：IGBT老化 失效机理 功率循环 结温计算 热阻监测 

学科分类：080801[080801] 0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.13334/j.0258-8013.pcsee.2015.20.022

馆 藏 号：203650630...