PCI9030在基于PCI总线X光谱数据采集卡中的应用

作     者：车震平 魏彪 李开龙 胡现辉 米德伶 CHE Zhen-ping;WEI Biao;LI Kai-long;HU Xian-hui;MI De-ling

作者机构：重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室重庆400044 重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室重庆400044 重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室重庆400044 重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室重庆400044 重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室重庆400044 

基　　金：重庆市科技计划项目:荧光X射线计算机层析成象(FXCT)技术研究 渝科发计字16号 

出 版 物：《光学精密工程》 (Optics and Precision Engineering)

年 卷 期：2004年第12卷第z1期

页      码：180-184页

摘      要：工业X-CT(X-ray Computed Tomography)即工业X射线层析成像技术,既是一种精密的测试设备,也是一种先进的无损检测技术,在航空、航天、军工、机械、电子、石油及地质等部门中有着广泛的用途.在工业X-CT系统中,因为X射线的能量是一个连续谱线,故X射线与被测物作用后将产生"能谱硬化"(Beam-hrdening)现象,这对CT图像质量将造成不良的影响,必须进行硬化校正.X光谱仪即是为此而研制的.论文在分析比较X光谱仪数据采集卡及系统的基础上,研制了一种基于PCI总线的X光谱数据采集卡,并就PCI数据采集卡设计中采用目标接口芯片PCI9030时,如何对本地总线及挂接的设备进行硬件设计以及如何设置几个重要的寄存器等进行了阐述,获得了一些进展.

主 题 词：工业X-CT 能谱硬化 X光谱数据采集 PCI总线 PCI9030 

学科分类：081203[081203] 08[工学] 0835[0835] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1004-924X.2004.z1.041

馆 藏 号：203654127...