单链扫描可测性设计中存储元件的排序

作     者：叶波 郑增钰 

作者机构：复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 

出 版 物：《微电子学》 (Microelectronics)

年 卷 期：1995年第25卷第3期

页      码：27-30页

摘      要：本文提出了扫描设计中存储元件在扫描链中的最优排序方法。采用交迭测试体制和区间法能快速求出最优解。对于确定的测试向量集，用该方法构造的扫描链能使电路总的测试时间最少。

主 题 词：CAD 集成电路 单链扫描可测性 存储元件 排序 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203655081...