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采用全局互连线随机模型的硅物理不可克隆函数的设计

采用全局互连线随机模型的硅物理不可克隆函数的设计

作     者:吴志安 段成华 

作者机构:中国科学院研究生院信息科学与工程学院北京100049 

出 版 物:《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)

年 卷 期:2012年第29卷第12期

页      码:36-42页

摘      要:物理不可克隆函数(PUF)是一种新颖的从复杂物理系统中提取"秘密"的技术方法,有望在移动设备身份鉴别、密钥的生成和存储等诸多领域得到广泛应用.现有的硅PUF电路仅考虑了片上逻辑器件延时,而忽视了已经作为时序模型主导因素的全局互连延时,不符合物理电路的实际.本文在PUF的构造中考虑到IC加工工艺的变化性并结合互连延时模型,提出了一种新型的PUF电路.仿真实验是在Synopsys Hspice C-2010模拟设计平台上完成的,测量了PUF电路的片间差异和片内差异参数,评估了128位的PUF电路的性能.实验结果表明所设计的PUF电路是可行的,有望应用于移动计算身份鉴别和核心芯片防护.

主 题 词:物理不可克隆函数 器件延时 互连延时 片间差异 片内差异 

学科分类:080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D O I:10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2012.12.008

馆 藏 号:203657984...

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