基于偏振调制技术的晶体各向异性参数实时检测系统

作     者：王宗宝 王克逸 孔春林 Wang ZongBao;Wang Keyi;Kong Chunlin

作者机构：中国科学技术大学精密机械与精密仪器系 福建92403部队 

出 版 物：《计量技术》 (Measurement Technique)

年 卷 期：2005年第8期

页      码：8-10页

摘      要：介绍了基于偏振光电光调制技术对人工晶体各向异性参数的检测,设计了半嵌入式的微机实时检测系统,可完成对晶体光学双折射与二向色性特征参数计算分析,并可检测晶体缺陷。

主 题 词：双折射 光学二向色性 数字信号处理器 电光调制 高压驱动 实时检测系统 各向异性参数 调制技术 人工晶体 偏振光 

学科分类：08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-0771.2005.08.003

馆 藏 号：203664294...