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X线头影测量Coben分析法在安氏Ⅲ类错诊断中的意义

X线头影测量Coben分析法在安氏Ⅲ类错诊断中的意义

作     者:庄金良 陈远萍 

作者机构:吉林大学口腔医院正畸科吉林长春130021 

出 版 物:《口腔医学研究》 (Journal of Oral Science Research)

年 卷 期:2011年第27卷第7期

页      码:639-640页

摘      要:Coben分析法是1955年Coben提出的一种x线头影测量分析方法,在x线头颅定位侧位片上测量面部的深度和高度,是以线距测量为主的分析方法,通过各测量值相互间的关系来分析颅面结构的特征^(1)。冯小东等研究认为,Co-ben分析法在骨性安氏Ⅲ类错殆畸形的诊断、提供正确的矫治设计依据及颌面生长发育的研究上,比角度分析更直观,更容易理解,具有临床应用价值。本文将对Coben分析法在安氏Ⅲ类错黯诊断及制定矫治计划中的意义进行综述。

主 题 词:Coben分析法 X线头影测量 安氏Ⅲ类 诊断 x线头颅定位侧位片 x线头影测量分析 颌面生长发育 临床应用价值 

学科分类:1003[医学-口腔医学类] 100302[100302] 10[医学] 

D O I:10.13701/j.cnki.kqyxyj.2011.07.031

馆 藏 号:203664559...

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