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集成电路中混合信号的测试

集成电路中混合信号的测试

作     者:王青萍 

作者机构:湖北第二师范学院物理与电子工程系武汉430205 

出 版 物:《湖北第二师范学院学报》 (Journal of Hubei University of Education)

年 卷 期:2009年第26卷第2期

页      码:86-89页

摘      要:集成技术的进步特别是混合信号电路的发展,对混合信号测试的技术研究提出了迫切需求和巨大挑战。本文详细介绍了混合信号测试设计的故障诊断和各种测试方法,比较了各自的优缺点,并对混合信号测试技术未来的发展作了展望。

主 题 词:混合信号 故障诊断 DFT BIST 测试总线 扫描测试 

学科分类:08[工学] 0835[0835] 0802[工学-机械学] 080201[080201] 

D O I:10.3969/j.issn.1674-344X.2009.02.026

馆 藏 号:203664885...

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