应用信息论评估SPECT投影数据完备性

作     者：徐鹏 马天予 金永杰 XU Peng;MA Tianyu;JIN Yongjie

作者机构：清华大学工程物理系北京100084 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(10505012) 国家教育振兴计划项目 

出 版 物：《清华大学学报（自然科学版）》 (Journal of Tsinghua University(Science and Technology))

年 卷 期：2006年第46卷第6期

页      码：817-820页

摘      要：为了评估准直器特性,并优化准直器设计,对单光子发射断层成像(SPECT)系统的投影过程进行了分析。从Shannon信息论的角度,建立发射断层成像系统投影过程中信息迁移机制的模型,以评估投影数据的完备性。将Shannon信息论应用到SPECT成像领域,根据在SPECT系统中信息量、条件熵、互信息熵的意义,提出了评估投影数据完备性的原理和方法。通过对平行孔准直器系统的计算验证了评估算法,并对4组编码孔径准直器进行了模拟。结果表明,该方法可以用来分析SPECT系统的准直器特性,根据物理条件来选取最佳的准直器设计。

主 题 词：单光子发射断层成像(SPECT) 编码孔径 数据完备性 熵 信息论 

学科分类：0831[工学-公安技术类] 100207[100207] 1002[医学-临床医学类] 08[工学] 1010[医学-医学技术类] 10[医学] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1000-0054.2006.06.017

馆 藏 号：203664918...