微焦X射线在枕头效应缺陷检测应用研究

作     者：王健 汤小双 马晓萌 姚振宁 WANG Jian;TANG Xiaoshuang;MA Xiaomeng;YAO Zhengning

作者机构：上海航天电子通讯设备研究所 

基　　金：上海市科技型企业技术创新课题项目 

出 版 物：《集成电路应用》 (Application of IC)

年 卷 期：2019年第36卷第6期

页      码：36-37页

摘      要：针对BGA枕头效应(HIP)缺陷,分析X-RAY设备最小缺陷分辨能力,提出基于X射线二维成像和三维断层扫描技术检测BGA焊接缺陷检测方法。根据缺陷特点及X-RAY成像原理,设计了二维多角度检测工装,通过实验,验证X射线检测BGA焊接枕头效应缺陷的可行性,给出缺陷的典型形貌。

主 题 词：微焦 二维扫描 三维扫描 枕头效应 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.19339/j.issn.1674-2583.2019.06.012

馆 藏 号：203673390...