安捷伦:展示最新射频微波与高速数字测试方案

作     者：许翠苹 

出 版 物：《通讯世界》 (Telecom World)

年 卷 期：2013年第19卷第4期

页      码：51-51页

摘      要：日前，首届电子设计创新会议（EDICON2013）在京举行。作为全球最大的测试测量公司，安捷伦科技是本次会议的白金赞助商，安捷伦以“为中国的未来培育创新设计”为本次会议主题，集结来自全球各地的专家和最新的测试应用方案亮相首届电子设计创新会议。在本次大会上，安捷伦共设有14个专题讲座、85个专题讨论以及超过10个主题的测试应用方案展示，参与大会的设计、测量与建模、系统工程和商业应用环节，全面展示安捷伦在射频微波与高速数字测试领域的最新测试应用方案，助力于为中国的未来培育创新设计。

主 题 词：安捷伦科技 测试方案 微波 射频 设计创新 测试应用 测试测量 创新设计 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203673580...