半导体制冷在测压铜柱高低温校准中的应用

作     者：孙帅飞 孔德仁 SUN Shuai-fei;KONG De-ren

作者机构：南京理工大学机械工程学院江苏南京210094 

出 版 物：《测控技术》 (Measurement & Control Technology)

年 卷 期：2014年第33卷第1期

页      码：153-156页

摘      要：测压铜柱在高低温环境下使用时会带来较大的测压误差，必须进行高低温校准。针对当前测压铜柱高低温静态校准系统中的高低温加载部分使用不便的问题，提出了基于半导体制冷技术对其进行改进。对高低温箱的结构及温度测控系统进行了设计及研制，并进行了温度控制实验，高低温箱可控制在-40-50℃范围内，温度控制精度优于±0．5℃，满足了测压铜柱高低温静态校准的要求。

主 题 词：测压铜柱 校准 半导体制冷 温度控制 

学科分类：08[工学] 0826[工学-生物医学工程类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-8829.2014.01.040

馆 藏 号：203673874...