基于UVM验证方法学的RF基带模块验证

作     者：何冬明 

作者机构：上海坤锐电子科技有限公司 

出 版 物：《今日电子》 (Electronic Products)

年 卷 期：2015年第2期

页      码：79-82页

摘      要：引言验证最基本的目的在于测试被测对象DUT的正确性,其最常用的方法就是给DUT施加各种不同的激励,并观测DUT的输出结果,把此结果与期望值相比较,判断DUT正确与否。近年来,随着集成电路设计向超大规模发展,芯片验证工作变得越来越复杂和困难,根据许多业内文献报道,验证的工作量已经占到整个芯片开发的70%左右,因此提高芯片验证的效率已变得至关重要。

主 题 词：芯片开发 验证工作 测试用例 RF UVM 文献报道 验证平台 模块结构 EEPROM sequencer 

学科分类：080904[080904] 0810[工学-土木类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080402[080402] 0804[工学-材料学] 081001[081001] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1004-9606.2015.02.019

馆 藏 号：203674615...