自动测试及其系统

出 版 物：《电子科技文摘》 (Sci.& Tech.Abstract)

年 卷 期：2000年第6期

页      码：87-89页

摘      要：Y2000-62046-397 0010039机内自测方法(含3篇文章)=Session 17:BIST relatedapproaches[会,英]//1999 17th IEEE VLSI Test Sym-posium.—397～418(AC)本部分共有3篇文章,篇名为:TAO-BIST:机内自测(BIST)寄存器传输级(RTL)电路可测试性分析与优化的构架,低能量 BIST 设计用测试矢量禁止技术,

主 题 词：自动测试 分析与优化 寄存器传输级 可测试性 测试矢量 自测方法 仪器仪表 现场可编程 低能量 计算机自动测量 

学科分类：0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203678925...