贮氢钛膜氢含量的中子反射分析方法设计

作     者：黄朝强 陈波 李新喜 王燕 宋建明 HUANG Chao-Qiang;CHEN Bo;LI Xin-Xi;WANG Yan;SONG Jian-Ming

作者机构：中国工程物理研究院核物理与化学研究所绵阳621900 

基　　金：中国工程物理研究院科学技术发展基金(2007B02002) 

出 版 物：《原子与分子物理学报》 (Journal of Atomic and Molecular Physics)

年 卷 期：2008年第25卷第5期

页      码：1017-1022页

摘      要：对3μm厚Ti膜的中子反射率谱进行理论计算,得到了Ti膜在不同含氘量(TiDc,c=0.5、1.0、1.5和2.0)、表面是否氧化下的反射率谱.数据表明,用中子反射技术可以获取含氘量和表面氧化程度等信息.同时,根据需测量的膜层最大厚度,对反射谱仪部分参数提出了要求.

主 题 词：Ti膜 吸氘 表面氧化 中子反射 

学科分类：08[工学] 0827[工学-食品科学与工程类] 082701[082701] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-0364.2008.05.002

馆 藏 号：203681334...