看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >泛华测控推出角位移传感器测试系统 收藏
泛华测控推出角位移传感器测试系统

泛华测控推出角位移传感器测试系统

出 版 物:《测控技术》 (Measurement & Control Technology)

年 卷 期:2009年第28卷第4期

页      码:99-100页

摘      要:2009年2月,北京中科泛华测控技术有限公司以“柔性测试”技术为核心设计理念,在深耕传感器测试领域又推出新品——角位移传感器测试系统。该系统主要用于磁感式角位移传感器的校准和终检测试。角位移传感器测试系统可在稳定的环境温度范围内,采用通信方式获取DUT原始数据,并对DUT进行校准和编程,最后测量DUT的输出信号进行验证测试。

主 题 词:角位移传感器 测试系统 测控技术 DUT 设计理念 温度范围 原始数据 通信方式 

学科分类:0810[工学-土木类] 080202[080202] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0835[0835] 0802[工学-机械学] 081002[081002] 

馆 藏 号:203687097...

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分