考虑关键故障的测试优化选择

作     者：叶文 吕鑫燚 吕晓峰 马羚 YE Wen;L Xinyi;LV Xiaofeng;MA Ling

作者机构：海军航空大学岸防兵学院山东烟台264001 西北工业大学电子信息学院陕西西安710072 

出 版 物：《系统工程与电子技术》 (Systems Engineering and Electronics)

年 卷 期：2019年第41卷第7期

页      码：1583-1589页

摘      要：针对现有测试优化选择方法中因关键故障为小概率故障而容易被漏检的问题,提出了一种有指向性的对关键故障进行有效检测和隔离的方法。首先从系统安全性角度,分析了关键故障的重要性。然后基于相关性矩阵,以测试代价最小为优化目标,以故障检测率与隔离率和关键故障检测率与隔离率为约束,建立了考虑关键故障的测试优化选择模型,最后采用基于质心改进和惯性权重自适应调整的二进制粒子群算法进行求解。仿真实验结果表明,考虑关键故障的测试优化选择方法可以有效消除因关键故障漏检而对装备安全造成的严重威胁。

主 题 词：测试性设计 测试选择 关键故障 质心 二进制粒子群算法 

学科分类：0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0802[工学-机械学] 0811[工学-水利类] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1001-506X.2019.07.20

馆 藏 号：203688973...