BEPCⅡ电子环寄生模损失测量

作     者：王洪磊 王牧源 杨际森 沙鹏 林海英 马强 王群要 米正辉 戴建枰 孙毅 王光伟 潘卫民 Wang Honglei;Wang Muyuan;Yang Jisen;Sha Peng;Lin Haiying;Ma Qiang;Wang Qunyao;Mi Zhenghui;DaiJianping;SunYi;WangGuangwei;PanWeimin

作者机构：中国科学院大学北京100049 中国科学院粒子加速物理与技术重点实验室北京100049 

基　　金：国家重点研发计划项目(2016YFA0400400) 

出 版 物：《强激光与粒子束》 (High Power Laser and Particle Beams)

年 卷 期：2019年第31卷第8期

页      码：79-83页

摘      要：BEPCII在设计阶段从束流不稳定性和寄生模损失角度对阻抗提出了限制,但在BEPCII运行中寄生模损失是影响高流强稳定运行的因素之一。针对BEPCII电子环的寄生模损失进行了测量,主要是基于同步相移随流强的微小变化、束流功率测量和高阶模吸收器的功率。测量结果表明:两种方法对比测量全环寄生模损失,结果重复可信,且全环寄生模损失是超导腔寄生模损失的4~5倍。

主 题 词：寄生模损失 同步相移 束流功率 高阶模 

学科分类：08[工学] 082701[082701] 0827[工学-食品科学与工程类] 

核心收录：

D　O　I：10.11884/HPLPB201931.190064

馆 藏 号：203692905...