基于多扫描链的内建自测试技术中的测试向量生成

作     者：李兆麟 叶以正 毛志刚 LI Zhao-lin;YE Yi-Zheng;MAO Zhi-gang

作者机构：北京大学微电子学研究所北京100871 哈尔滨工业大学微电子中心哈尔滨150001 

出 版 物：《计算机学报》 (Chinese Journal of Computers)

年 卷 期：2001年第24卷第4期

页      码：411-419页

摘      要：针对基于多扫描链的内建自测试技术 ,提出了一种测试向量生成方法 .该方法用一个线性反馈移位寄存器 (L FSR)作为伪随机测试向量生成器 ,同时给所有扫描链输入测试向量 ,并通过构造具有最小相关度的多扫描链来克服扫描链间的相关性对故障覆盖率的影响 .此外该方法经过模拟确定难测故障集 ,并针对这个难测故障集利用 ATPG生成最小确定性测试向量集 .最后再依据得到的最小测试向量集来设计位改变逻辑电路 ,利用位改变逻辑电路控制改变扫描链上特定位的值来实现对难测故障的检测 ,从而实现被测电路的故障完全检测 .

主 题 词：内建自测试 多扫描链 逻辑电路 测试向量生成 

学科分类：0810[工学-土木类] 0808[工学-自动化类] 080902[080902] 0809[工学-计算机类] 0839[0839] 08[工学] 0835[0835] 0811[工学-水利类] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:0254-4164.2001.04.013

馆 藏 号：203695023...