CMOS和EMCCD在全局快门模式下的信噪比探讨

作     者：张晓阳 刘金国 孔德柱 李广泽 陈佳豫 彭畅 余达 ZHANG Xiao-yang;LIU Jin-guo;KONG De-zhu;LI Guang-ze;CHEN Jia-yu;PENG Chang;YU Da

作者机构：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所长春130033 中国科学院大学北京100039 

基　　金：国家自然科学基金(61405191) 吉林省科技发展计划项目(20150520102JH,20160101273JC) 

出 版 物：《电光与控制》 (Electronics Optics & Control)

年 卷 期：2019年第26卷第7期

页      码：80-84页

摘      要：全局快门在对地观测的超光谱成像、测绘及星敏应用中具有优势,但应用效果也依赖于高信噪比。针对CMOS成像特点,设计了可进行拉灌电流的低压基准源电路,基于低热光学变形的焦面电子学,提出上电初始态不定的多通道串行数据接收方法;针对全局快门所特有的寄生光灵敏度影响,采用分行统计中间行为基准的多点拟合校正方法;按照EMVA1288标准,将前照式CMOS成像系统与制冷背照式EMCCD进行了测试,校正前后单幅图像的标准差分别为3.37和0.42,最大信噪比为123.37,EMCCD的最大信噪比为359.43。结果表明,该校正方法可有效减弱全局快门的固定图形噪声,面阵CMOS在全局快门方式下的信噪比与EMCCD相比还有较大差距。

主 题 词：全局快门 对地观测 超光谱成像 寄生光灵敏度 CMOS成像 EMCCD 

学科分类：080903[080903] 083002[083002] 0830[工学-生物工程类] 081802[081802] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0818[工学-交通运输类] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 081602[081602] 0816[工学-纺织类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1671-637X.2019.07.016

馆 藏 号：203695617...