《集成电路测试与可测性设计》的教学探索

作     者：闾晓晨 李斌 

作者机构：华南理工大学物理科学与技术学院广东广州510640 

出 版 物：《中山大学学报论丛》 (Supplement to the Journal of Sun Yatsen University)

年 卷 期：2005年第25卷第3期

页      码：15-16页

摘      要：跟随当前集成电路技术的发展,在微电子专业开设课程《集成电路测试与可测性设计》,完善了学生的专业知识结构。

主 题 词：《集成电路测试可测性设计》 微电子 教学研究 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1674-3202.2005.03.005

馆 藏 号：203696945...