手机中电触点的失效分析

作     者：周怡琳 ZHOU Yi-lin

作者机构：北京邮电大学自动化学院北京100876 

基　　金：国家自然科学基金项目(50277002) 

出 版 物：《北京邮电大学学报》 (Journal of Beijing University of Posts and Telecommunications)

年 卷 期：2006年第29卷第1期

页      码：69-72页

摘      要：研究了大量失效手机中的镀金触点后发现,触点表面污染是造成电接触故障的主要原因之一.污染物形貌复杂,且主要集中在印制电路板的触点一侧,成分涉及C、O、Si、Al、S、Cl、Na、Ni等很多元素.污染物来自于环境中的尘土和微动磨损.采用图像处理技术计算污染物覆盖面积百分比,划分触点污染程度为5级.污染等级越高,污染物平均厚度越厚,磨损区范围越大.污染触点上的接触电阻60%超过设计标准,最大接触电阻达4Ω.电接触不可靠造成手机可靠性下降.

主 题 词：镀金触点 污染 磨损 接触电阻 手机 

学科分类：0810[工学-土木类] 080801[080801] 0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 0839[0839] 08[工学] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1007-5321.2006.01.016

馆 藏 号：203701375...