一款微处理器芯片电源网络的验证及优化

作     者：张彦 张萌 ZHANG Yan;ZHANG Meng

作者机构：东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心江苏省南京市210096 

出 版 物：《电子工程师》 (Electronic Engineer)

年 卷 期：2007年第33卷第10期

页      码：18-20,36页

摘      要：当CMOS工艺进入深亚微米设计阶段,器件密度和时钟频率增加,电源线和地线网络传送的电流也同样增加,导致功率密度的增加,这些都将对电源网络产生不利影响。因此,设计良好的电源网络显得尤为重要。为了确保较短的设计周期以及满足可靠性和可制造性的要求,电源网络的验证及优化已成为整个设计流程中关键的一步。首先介绍了存在于电源网络的欧姆电压效应,并且给出了一款系统芯片的电源网络的验证优化流程,基于此流程进行欧姆压降的分析,在尽量缩小设计周期的考虑下,给出了优化的几个方法,并应用于工程实际,达到了设计要求。

主 题 词：信号完整性 电源网络 欧姆电压降 功耗 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1674-4888.2007.10.006

馆 藏 号：203701807...