弹内存储测试系统的应用与研究

作     者：侯卓 熊继军 张文栋 HOU Zhuo;XIONG Ji-jun;ZHANG Wen-dong

作者机构：仪器与动态测试教育部重点实验室中北大学太原030051 

基　　金：国家自然科学基金委员会资助:50424507 

出 版 物：《弹箭与制导学报》 (Journal of Projectiles,Rockets,Missiles and Guidance)

年 卷 期：2006年第26卷第S5期

页      码：219-220页

摘      要：利用CPLD研究设计了对于弹丸过载参数测试系统。本系统主要采用CPLD(可编程逻辑器件) CoolRunner XPLA3(BGA封装)和AD7470。详细介绍了系统的工作原理,测试电路的设计与仿真,以及低功耗的实现方法。

主 题 词：存储测试 低功耗 可编程逻辑器件(CPLD) 

学科分类：08[工学] 082603[082603] 0826[工学-生物医学工程类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1673-9728.2006.02.073

馆 藏 号：203703485...