基于LBIST的纠检错电路验证方法与实现

作     者：崔媛媛 李振辉 张洵颖 Cùi Yuanyuan;Li Zhenhui;Zhang Xunying

作者机构：西安微电子技术研究所西安710054 

基　　金：十二五核高基项目(2011AA120201) 

出 版 物：《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期：2014年第22卷第7期

页      码：2146-2147,2153页

摘      要：基于逻辑内建自测试的设计原理,提出了一种针对纠检错电路进行功能自测试的方法,根据纠检错电路具有固定纠检错能力的特点,无需存储海量的比较数据,也不需要设计响应特征分析器对结果数据进行压缩处理,针对具体的纠检错电路,通过增加特别设计的注错逻辑可实现任意类型的故障注入,并根据注错信息可对结果进行预测,通过与预期结果比较,可达到验证的目的;最后,以(40,32)海明编码与解码电路为例,实现了其功能自测试结构,并对所有240-1种故障进行了注入与验证;结果表明使用本文的验证方法,可实现纠检错电路的自动化随机验证。

主 题 词：逻辑内建自测试 纠检错电路 故障注入 单粒子翻转 线性反馈移位寄存器 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1671-4598.2014.07.045

馆 藏 号：203704929...