液晶显示面板质量改善试验方法探讨(二)

作     者：刘铁磊 刘志昂 高志刚 常晶 汪柯宇 

作者机构：京东方科技集团股份有限公司CS运营部 

出 版 物：《电子世界》 (Electronics World)

年 卷 期：2019年第15期

页      码：30-32页

摘      要：LCD行业Mura类不良是普遍存在的问题,部分新产品量产初期发生率维持在2.5%以上。本文主要阐述B司质量改善小组,在明确Mura类不良产生因素的基础上,运用正交表进行实验设计。通过合理安排试验,得出最佳量产条件,并最终将发生率控制在0.5%以下。旨在为工厂不良改善活动提出合理化的试验思路,从而有效减少试验次数,降低生产成本。总结工厂实际不良改善经验,以上方法在LCD工厂不良改善活动中基本适用。

主 题 词：液晶显示面板 LCD 质量改善 Mura 试验次数 正交表 方法探讨 实验设计 

学科分类：0810[工学-土木类] 08[工学] 081001[081001] 

D　O　I：10.19353/j.cnki.dzsj.2019.15.012

馆 藏 号：203705660...