SOC中嵌入式存储器阴影逻辑的可测性设计

作     者：施文龙 林伟 SHI Wenlong;LIN Wei

作者机构：福州大学福建省微电子集成电路重点实验室福州350002 

出 版 物：《电子器件》 (Chinese Journal of Electron Devices)

年 卷 期：2012年第35卷第3期

页      码：317-321页

摘      要：在使用ATPG工具对集成电路进行固定故障测试时,嵌入式存储器模块被视为简单的I/O模型,ATPG工具无法传递存储器周围组合逻辑的故障。通过研究SOC的可测性设计后,针对某数字信息安全芯片设计,利用扫描设计原理,改进了其存储器周围逻辑的设计,为阴影逻辑提供了可测试路径,提高了整个芯片的测试覆盖率和故障覆盖率。分析了设计的功耗、面积,确定了设计的有效性。

主 题 词：可测性设计 扫描设计 阴影逻辑 故障覆盖率 自动测试图形生成 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1005-9490.2012.03.017

馆 藏 号：203709678...