芯片级系统的在线测试技术

作     者：江建慧 员春欣 

作者机构：同济大学计算机科学与技术系上海200092 

基　　金：国家自然科学基金项目 (90 2 0 70 2 1) 

出 版 物：《计算机研究与发展》 (Journal of Computer Research and Development)

年 卷 期：2004年第41卷第9期

页      码：1593-1603页

摘      要：在线测试是基本容错技术之一 把在线测试技术概括为差错控制码、重复与比较、在线监督等 3类 ,对其发展历史进行了回顾 ,重点是 2 0世纪 90年代以来的成果 ,包括芯片设计方案、原型及产品 研究结果表明 。

主 题 词：在线测试 高性能处理机 容错计算 VLSI芯片 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

馆 藏 号：203710223...