某电子设备接触电流偏大的原因分析及解决方法

作     者：周会芬 

作者机构：华北计算技术研究所中国北京100083 

出 版 物：《科技信息》 (Science & Technology Information)

年 卷 期：2008年第11期

页      码：92-93页

摘      要：文章从接触电流成因、导致接触电流偏大的因素等2个方面对接触电流偏大的原因进行了理论分析,结合某电子设备的实例详细论述了该问题的解决过程,并最终给出了切实可行的整改措施,提供了相关问题的解决途径。在文章最后提出了"过度设计"的概念,指出了它的危害。

主 题 词：安全测试 接触电流 Y电容 过度设计 

学科分类：080801[080801] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 0825[工学-环境科学与工程类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1001-9960.2008.11.059

馆 藏 号：203717303...