一种IC测试系统的可靠性分析与改进设计

作     者：蔡仁钢 戴慈庄 涂泽中 Cai Rengang;Dai Cizhuang;Tu Zezhong

作者机构：北京航空航天大学 

出 版 物：《北京航空航天大学学报》 (Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics)

年 卷 期：1999年第25卷第1期

页      码：117-120页

摘      要：美国ＧＲ系列ＩＣ测试系统采用磁带机作为系统程序的输入设备，由于磁带机故障率较高，因此使用中经常发生程序输入失败的现象，严重影响了该测试系统的可靠性．本文在对ＧＲ１７３２Ｍ型测试系统的组成结构进行深入分析的基础上，应用在线仿真器对主处理器进行实时仿真，跟踪了引导程序的执行流程和系统磁带的输入过程，提出用ＰＣ微机代替磁带机，通过ＲＳ２３２串行接口传送所有软件．本文详细阐述了改进设计方法，改进成功后提高了系统的可靠性和工作效率．本文所采用的可靠性分析方法和对系统软件进行在线仿真跟踪的分析技术适用于各种微机测试系统的硬件和软件分析．

主 题 词：集成电路 测量系统 可靠性 在线仿真 程序移植 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0802[工学-机械学] 0825[工学-环境科学与工程类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1001-5965.1999.01.031

馆 藏 号：203718182...